国产亚洲欧洲综合5388,国产+欧美+另类,高清120秒动态图试看5次,少妇人妻中文字幕hd,亚洲aⅴ男人的天堂在线观看

行業(yè)新聞
X射線(xiàn)爆炸物及毒品探測(cè)技術(shù)解析閱讀次數(shù) [1758] 發(fā)布時(shí)間 :2018-03-22

  對(duì)通過(guò)重要出入口的人員所攜帶的行李物品進(jìn)行安全檢查已成為國(guó)際上廣泛采用的安全措施。近年來(lái),受航空安全等需要的驅(qū)使,X射線(xiàn)安全檢查技術(shù)得到迅速發(fā)展,并已成為國(guó)際上廣泛采用的安檢技術(shù)。本文闡述了X射線(xiàn)安全檢查技術(shù)的基本原理,以及目前常用的X射線(xiàn)安檢方法。

  世界范圍內(nèi)各種形式的恐怖事件頻發(fā),公共安全已成為國(guó)際社會(huì)關(guān)注焦點(diǎn)。為對(duì)付日益猖獗的恐怖活動(dòng),各國(guó)政府紛紛出臺(tái)相應(yīng)政策,包括加強(qiáng)對(duì)機(jī)場(chǎng)、車(chē)站、碼頭等公共場(chǎng)所的安檢措施,并重點(diǎn)加強(qiáng)對(duì)爆炸物、毒品等違禁品的檢查力度。但是,由于爆炸物種類(lèi)繁多,且物質(zhì)形態(tài)千差萬(wàn)別,要準(zhǔn)確、快速地檢查出爆炸物等違禁品,無(wú)疑提高了對(duì)安檢設(shè)備的技術(shù)要求。

  目前,國(guó)際上對(duì)爆炸物等違禁品的檢測(cè)技術(shù)研究,主要集中在X 射線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)、中子檢測(cè)技術(shù)、電磁測(cè)量技術(shù)及蒸氣微粒探測(cè)技術(shù)等。其中X 射線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)是相對(duì)成熟且應(yīng)用最廣泛的一項(xiàng)技術(shù),主要包括X 射線(xiàn)透射法、雙能X 射線(xiàn)檢測(cè)法、X 射線(xiàn)散射法、X 射線(xiàn)CT等。這些技術(shù)通過(guò)提取被檢物的特征物理量信息,實(shí)現(xiàn)對(duì)違禁物的檢查。所提取的被檢物的特征物理量,主要是被檢物的密度(ρ)和有效原子序數(shù)(Zeff)信息。理論上,已知物質(zhì)的密度和有效原子序數(shù)就可以準(zhǔn)確確定物質(zhì)的類(lèi)型。但是,目前現(xiàn)有的各種安全檢查方法都存在著不同程度的不足與缺陷,將各種安檢方法相互補(bǔ)充,實(shí)現(xiàn)多級(jí)檢查是目前安檢中常用的手段。本文詳細(xì)闡述X射線(xiàn)安全檢查技術(shù)的基本原理,并介紹目前常用的X射線(xiàn)安檢方法。

  X射線(xiàn)原理:

  X射線(xiàn)是一種高能的電磁輻射,是由高能電子在物質(zhì)中作減速運(yùn)動(dòng)或由原子內(nèi)層軌道電子的躍遷所產(chǎn)生,因其穿透性強(qiáng),可以穿透包裹、行李等物品,被用來(lái)作為安全檢查的射線(xiàn)源。

  X射線(xiàn)產(chǎn)生后,通過(guò)準(zhǔn)直器形成平面的扇形射線(xiàn)束照射被檢物,經(jīng)過(guò)與被檢物的相互作用,該扇形射線(xiàn)束的一部分能量被物質(zhì)吸收,一部分能量被物質(zhì)散射,由于不同種類(lèi)的材料對(duì)X射線(xiàn)的吸收、散射能力不同,所以透射的X射線(xiàn)束到達(dá)探測(cè)器時(shí)的能量也不同。探測(cè)器把探測(cè)到的X射線(xiàn)能量轉(zhuǎn)化為載流子,并將微小尺寸范圍內(nèi)X射線(xiàn)能量的變化分辨出來(lái),經(jīng)過(guò)處理,探測(cè)器接收的能量大小以灰度級(jí)圖像顯示。再經(jīng)計(jì)算機(jī)圖像技術(shù)處理后可使行李包裹中危險(xiǎn)品和違禁品能被檢查出來(lái)。

201444165046514363.jpg

  X射線(xiàn)穿過(guò)物質(zhì)時(shí),其衰減存在以下規(guī)律:

  (1)式中,I0為X射線(xiàn)的入射強(qiáng)度;t為被檢物的厚度;μ為被檢物總衰減系數(shù); I為出射的X射線(xiàn)強(qiáng)度。根據(jù)X射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用,按其作用原理可分為光電效應(yīng)、康普頓散射效應(yīng)、瑞利散射效應(yīng)和正負(fù)電子對(duì)效應(yīng)。X射線(xiàn)穿過(guò)物質(zhì)時(shí),其總衰減系數(shù)μ為:

  (2)式中,Σ為宏觀界面;N為單位體積原子核數(shù);σ為總衰減截面;σph為光電吸收截面;σc為康普頓散射截面;σr為瑞利散射截面;σK為電子對(duì)截面; A為原子質(zhì)量數(shù); NA為阿伏加德羅常數(shù);ρ為物質(zhì)密度。對(duì)于原子序數(shù)小的物質(zhì)(如:大部分的爆炸物、毒品)可近似認(rèn)為:σph為原子序數(shù)Z和入射X光子能量hν的函數(shù),σc僅為hν的函數(shù),σr為Z與hν的函數(shù),當(dāng)入射光子能量達(dá)到兆電子伏時(shí)會(huì)產(chǎn)生電子對(duì)效應(yīng),一般安全檢查設(shè)備所用X光子能量在千電子伏量級(jí),不會(huì)產(chǎn)生電子對(duì)效應(yīng),σK項(xiàng)可忽略。因此總衰減系數(shù)μ是Z、ρ、hν函數(shù)。